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熒光膜厚儀 xulm240

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型號包括：

        ? FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 210
        ? FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 220
        ? FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240

?丨菲希爾熒光鍍層測厚儀介紹：

在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時，XUL® 系列測量儀器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量，能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線管。XULM適合測量小的結構。它配備了微聚焦管，測量點*小可達約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數率。即使很短的測量時間也可以達到很好的重復精度。此外，XULM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創造*佳的激勵條件。 ?

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測量PCB板上:Au/Ni/Cu/PCB               測量連接器:Au/Ni/CuSn6

特性：

    。 憑借寬大的測量室和自下而上的測量方向，即使大型樣品（如：印制電路板或柔性電路板）也可簡便、快速地定位
    。 硬件選項豐富多樣，可滿足各種測量需求
    。 可選配微聚焦 X 射線管，從而可測量直徑僅為 100 µm 的微型結構和測量表面

應用：

    。 鉻鍍層，如：經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
    。 防腐蝕鍍層，如鋼材上的鋅鍍層
    。 印制電路板和柔性電路板上的鍍層
    。 接插件和連接器上的鍍層
    。 電鍍槽液分析

特征：

    。 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。 *高工作條件:50KV,50W
    。 X射線探測器采用比例接收器
    。 準直器:固定或4個自動切換，0.05 x0.05mm到直徑00.3mm
    。 基本濾片:固定或3個自動切換
    。 測量距離可在0-27.5mm范圍內調整
    。 固定的樣品支撐臺或手動XY工作臺
    。 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。 刻度線經過校準， 顯示實際測量點大小。
    。 設計獲得許可， 防護全面， 符合德國X射線條例第4章第3節