EPK MiniTest 720/730/740技術參數

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EPK MiniTest 720/730/740技術參數

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目前SIDSP是技術，智能化數字化的涂層測厚儀探頭。該技術是有EPK品牌自主研發，此項技術的在一次創新取得了決定性優勢，為涂層測厚領域建立的新標準。

那么，SIDSP有哪些決定性的優勢呢？

1）探頭具有*的抗干擾性

2）測量型號穩定性高

3）*的高度的探頭特征曲線

4）溫度對探頭不具影響力

5）探頭適應能力強

6）N和FN型探頭基體導電性補償

7）將持續發現并改進SIDSP技術，以滿足客服的需求

EPK MiniTest 720/730/740技術參數

主機：

型號特性	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類型	內置	外置	內/外置可換
數據記憶組數	10	10	100
存儲數據量	≤10000個	≤10000個	≤100000個
統計值	讀值個數，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合標準和規范	ISO,SSOC,瑞典標注，澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值
極限值監控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	um, mm, cm, mils,inch,thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數據接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內置）230g（外置）

探頭：

探頭特性	F1.5，N0.7，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內部32位信號處理（SIDSP）
度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
zui小曲率半徑（凹，內置探頭）	30mm		30mm			30mm
zui小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
zui小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
測量速度	連續模式每秒20個讀數,單值模式下每分鐘70個讀數