ELEKTROPHYSIK MiniTest740測厚儀概況

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ELEKTROPHYSIK MiniTest740測厚儀概況

-創新的SIDSP（探頭內部數字信號處理）技術提升了測量的性

-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯

SIDSP技術-技術，智能數字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去，數字信號處理將成為未來的趨勢

MiniTest740測厚儀采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發的，良好的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內部數字信號處理，這項技術使探頭在測量時，同時在探頭內部將信號*處理為數字形式。SIDSP探頭*依據世界*技術生產。

MiniTest740測厚儀的SIDSP工作原理？
跟傳統技術不同，SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號，回傳的信號經過32位數字轉換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項的數字處理技術，同時應用在現代通訊技術（手機網絡）方面，如數字濾波器，基帶轉換，平均值，隨機分析，等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質量和度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優勢，為涂層測厚設定了一個新的標準。

MiniTest740測厚儀為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測量相關的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾，因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。

SIDSP-測量信號高穩定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結果，再次證明了SIDSP探頭的性能。

SIDSP探頭對溫度變化不敏感。

在生產過程中，對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償的編碼，這對于模擬探頭是根本不可能實現的。這樣溫度改變就不會影響測量，與溫度相關的錯誤不會在SIDSP探頭上發生

SIDSP探頭適應性強

需要快速測量幾個點嗎？只要開啟快速測量模式，探頭自動轉換到特定設置。想進行高精度測量嗎？沒問題，只要選擇高精度模式，儀器同樣能自動轉換。不論您要求測量單個數值還是連續測量，SIDSP都能完成您的選擇！

優點一覽

SIDSP使測量不受干擾，測值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內置換為外置）
-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
-讀數和統計值能單獨調出
-超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
-可下載更新軟件

ELEKTROPHYSIK MiniTest740測厚儀概況

型號特性	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類型	內置	外置	內置外置可換
數據記憶組數	10	10	100
存儲數據量	zui多10,000個	zui多10,000個	zui多100,000個
統計值	讀值個數，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合標準和規范	ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值
極限值監控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou

操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數據接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內置）/230g（外置）