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epk授權(quán)代理膜厚儀
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德國(guó)epk進(jìn)口FH7400FH膜厚儀ElektroPhysik測(cè)厚儀
適用于非磁性材料的測(cè)量 ；測(cè)量厚度高達(dá)10mm ；是復(fù)雜形狀的瓶子、鋁罐、玻璃和塑膠工件的理想測(cè)量工具 ；用戶菜單控制界面 ；上下文關(guān)聯(lián)的在線幫助 ；統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制功能
德國(guó)epk進(jìn)口FH7400FH膜厚儀ElektroPhysik測(cè)厚儀
霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀高度厚度測(cè)量
MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH是便攜式的厚度測(cè)量工具，可準(zhǔn)確測(cè)量厚達(dá)10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進(jìn)行簡(jiǎn)單，無(wú)損，高精度的厚度測(cè)量，無(wú)論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。它還是尖角，小半徑和復(fù)雜形狀工件理想的測(cè)量工具。
適用于非磁性材料的測(cè)量 ；測(cè)量厚度高達(dá)10mm ；是復(fù)雜形狀的瓶子、鋁罐、玻璃和塑膠工件的理想測(cè)量工具 ；用戶菜單控制界面 ；上下文關(guān)聯(lián)的在線幫助 ；統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制功能
epk膜厚儀經(jīng)銷(xiāo)商
霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀高度厚度測(cè)量
MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH是便攜式的厚度測(cè)量工具，可準(zhǔn)確測(cè)量厚達(dá)10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進(jìn)行簡(jiǎn)單，無(wú)損，高精度的厚度測(cè)量，無(wú)論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。它還是尖角，小半徑和復(fù)雜形狀工件理想的測(cè)量工具。
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| 測(cè)量范圍 | 測(cè)量誤差 |
FH4探頭 | 0-1.5mm用1.5mm鋼球測(cè) | ±(3um+1%讀值) |
| 0-2.5mm用2.5mm鋼球測(cè) | ±(5um+1%讀值) |
| 0-4.0mm用4mm鋼球測(cè) | ±(10um+1%讀值) |
FH10探頭 | 0-2.5mm用2.5mm鋼球測(cè) | ±(5um+1%讀值) |
| 0-4.0mm用4mm鋼球測(cè) | ±(10um+1%讀值) |
| 0-10.0mm用6mm鋼球測(cè) | 1-6mm：±(20um+1%讀值) |
|
| 6-10mm：±(1.5%讀值) |
| 0-10.0mm用9mm鋼球測(cè) | 1-10mm：±(20um+1%讀值) |
低范圍分辨率 | 0.1um（FH4）/ 0.2um（FH10） | |
重復(fù)性 | 優(yōu)于±(1um+0.5%讀值) | |
測(cè)量原理 | 靜磁原理 | |
速度 | 1，2，5，10，20個(gè)讀值每秒（可選） | |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 240,000個(gè)（7200 FH多100,000個(gè)） | |
校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置，零校準(zhǔn)，多達(dá)4點(diǎn)校準(zhǔn) | |
測(cè)量單位 | 公制（um，mm），英制（mils，inch） | |
統(tǒng)計(jì)圖表 | 數(shù)字，趨勢(shì)圖，柱狀圖（僅限7400 FH） | |
接口 | RS232 TTL + IrDA 1.0 | |
操作溫度 | -10℃ ~ +60℃（保存溫度-20℃ ~ +80℃ ） | |
體積/重量 | 153mm x 89mm x 32mm / 310g | |
供電 | 4 x AA（LR06）電池，或可選電源（90-240V / 48-62Hz）
| |
篤摯儀器（上海）有限公司
：王工
公司地址：上海市浦東新區(qū)外高橋保稅區(qū)華京路418號(hào)
涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)注意事項(xiàng)，應(yīng)注意下列要點(diǎn)：
1.正確的校準(zhǔn)對(duì)產(chǎn)品測(cè)量是至關(guān)重要的。對(duì)于校準(zhǔn)，將采用一個(gè)與后來(lái)被測(cè)量的物體相類似的樣品，即同時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)試樣和衡量的對(duì)象應(yīng)具有相同的形狀和幾何。基本上，更多測(cè)量對(duì)象的標(biāo)準(zhǔn)試樣匹配，測(cè)量結(jié)果將更加準(zhǔn)確。
2.確定校準(zhǔn)樣品和被測(cè)量物體的以下屬性匹配： -- 表面的曲率半徑 -- 襯底材料(如磁導(dǎo)率，電導(dǎo)；以理想的方式，標(biāo)準(zhǔn)試樣和測(cè)量對(duì)象應(yīng)是同樣的材料) -- 基材厚度 -- 測(cè)量區(qū)域的尺寸3.在開(kāi)始校準(zhǔn)之前，確保校準(zhǔn)點(diǎn)，傳感器提示和校準(zhǔn)的樣板是干凈的。如果有必要，去除任何如油脂，金屬屑等堆積物。任何雜質(zhì)可能影響校準(zhǔn)和導(dǎo)致校準(zhǔn)的不穩(wěn)定。
4.確保總是找到各自的同一校準(zhǔn)位置，特別是小零件的測(cè)量和在棱角的測(cè)量。小零件建議使用測(cè)量支架。
5.在校準(zhǔn)過(guò)程中遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)。
6.更多可以與預(yù)期厚度匹配的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)厚度，將校準(zhǔn)和測(cè)量更加準(zhǔn)確。
7.根據(jù)電磁感應(yīng)方法，測(cè)量鋼或鐵襯底上的有色金屬涂料的厚度，需要多點(diǎn)校正。厚度標(biāo)準(zhǔn)樣本必須由作為以后要測(cè)量的物體相同的金屬制成。
8.如果使用校準(zhǔn)箔，確保它們被放置在基板材料的平面位置上。箔下面的空氣間隙必須避免，因?yàn)檫@將導(dǎo)致不穩(wěn)定的讀數(shù)。如果是曲線的鋁箔，確保它們放置在基體上，如下所示。
